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2019/07/01Micro LED顯示器檢測修復大挑戰
LED測試包括光致發光測試(Photoluminescence; PL)及電致發光測試(Electroluminescence; EL),前者能在不接觸且不損壞LED晶片的情況下,對LED晶片進行測試,但檢測效果跟EL測試相比略為遜色,無法確實發現所有瑕疵,可能降低後續的生產良率。相反的,EL測試透過通電LED晶片來進行測試,能夠找出更多缺陷,卻可能因接觸而造成晶片損傷。而Micro LED由於晶片體積過小,而難以適用傳統測試設備,以EL檢測的難度相當高,但PL測試又可能出現遺漏,造成檢測效率不佳......。

消息來源:LEDinside
網頁連結:https://www.ledinside.com.tw/news/20190613-36167.html