LED測試包括光致發光測試(Photoluminescence; PL)及電致發光測試(Electroluminescence; EL)，前者能在不接觸且不損壞LED晶片的情況下，對LED晶片進行測試，但檢測效果跟EL測試相比略為遜色，無法確實發現所有瑕疵，可能降低後續的生產良率。相反的，EL測試透過通電LED晶片來進行測試，能夠找出更多缺陷，卻可能因接觸而造成晶片損傷。而Micro LED由於晶片體積過小，而難以適用傳統測試設備，以EL檢測的難度相當高，但PL測試又可能出現遺漏，造成檢測效率不佳......。

消息來源：LEDinside
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